第46回ネプコンジャパンに出展いたしました!(2017.1.18~1.20)

アズビル太信株式会社は、東京ビックサイトで開催された「第46回ネプコンジャパン」に出展いたしました。
会期中は大勢のお客様にご来場いただき、大盛況のうちに終えることが出来ました。誠に有難うございました。
出展ブースでは、弊社EMS事業のご紹介をはじめ、JTAGバウンダリスキャンテストについてデモ機を用いてのご紹介をしました。ご興味のある方は、弊社までお気軽にご連絡ください。

第34回エレクトロテストジャパン2016 に参加しました!(2016.1.13~1.15)

JTAGバウンダリスキャン
ご紹介資料(PDFファイル/593KB)

アズビル太信株式会社は、第34回エレクトロテストジャパン2016において、アンドールシステムサポート株式会社様の出展ブース内にてJTAGバウンダリスキャンテストの実演デモを実施しました。
2016年1月13日~15日の3日間、アンドールシステムサポート株式会社様のご支援のもと、大勢のお客様に弊社のJTAGバウンダリスキャンテスト活用例をご覧頂きました。

<説明員からのコメント>
アズビル太信のJTAGバウンダリスキャンテスト活用事例を紹介させて頂きました。特にBGA実装におきましては、その実装品質にお困りのメーカー様がとても多いことを改めて認識いたしました。
今回の展示会を機に、是非ともアズビル太信という会社にご興味を持って頂ければ幸いに思います。
JTAGバウンダリスキャンテストご紹介ページはこちら

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アズビル太信株式会社